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網(wǎng)絡(luò )分析儀時(shí)域變換模式通常采用逆Z變換，帶寬方式可選低通模式或帶通模式。低通模式一般用來(lái)進(jìn)行寬帶DUT測試，如電纜和接插件測試；帶通模式通常用于窄帶或高通濾波DUT。低通模式可選擇低沖響應或低通階躍響應，脈沖響應常用來(lái)傳輸線(xiàn)和接頭壞點(diǎn)測試；階躍響應常用來(lái)阻抗測試。低通模式需要虛擬補齊0頻和負頻率頻響值，在-SPAN~+SPAN范圍內時(shí)域變換。

使用網(wǎng)絡(luò )分析儀時(shí)域功能的工程師經(jīng)常困惑時(shí)域指標問(wèn)題，通常在網(wǎng)絡(luò )分析儀指標手冊上查不到，而是由頻域響應計算得來(lái)，取決于網(wǎng)絡(luò )分析儀頻域指標，帶寬（SPAN）、頻點(diǎn)間隔（STEP）、點(diǎn)數（PNTS）和窗型。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

網(wǎng)絡(luò )分析儀內部功分器和定向耦合器分別完成對被測件輸入信號和反射信號的提取。其中當要測試被測件某個(gè)端口反射特性時(shí)，必須將定向耦合器直接連接在該測試端口上。

這兩部分統稱(chēng)為信號分離裝置，這部分硬件也通常被測試為“測試座”，在一些特殊測試場(chǎng)合(大功率測試等)可不使用網(wǎng)絡(luò )分析儀表一體化的內置測試座，而使用外置測試座設備。

電橋用于反射性能測試，電橋可覆蓋很寬頻率范圍，電橋的主要缺點(diǎn)是對傳輸信號有較大損耗。因此對于給定的信號源功率。結果導致輸入到被測件的功率損失。

定向耦合器負責分離反射測試中的激勵信號和反射信號，這個(gè)功能也可由電橋完成，與定向耦合器相比，電橋可覆蓋更寬的頻率范圍，單其對測試的傳輸信號有較大損耗。

內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器，測試時(shí)除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比，使用從VNA內部信號源引出的信號作為L(cháng)O信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍）。